ATX200漆膜測(cè)厚儀
ATX200漆膜測(cè)厚儀
ATX200漆膜測(cè)厚儀概述
ATX200漆膜測(cè)厚儀/油漆測(cè)厚測(cè)量?jī)x配置嵌入式傳感器，采用磁性法，可用于無(wú)損測(cè)量磁性基體上非磁性涂鍍層厚度，符合以下工業(yè)規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)： GB/T 4956磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量磁性法 JB/T 8393磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x DIN EN ISO 2178 ASTM B499 ;具有高精度、易操作、穩(wěn)定，簡(jiǎn)單、可靠、可用于現(xiàn)場(chǎng)快速測(cè)量等特點(diǎn)，配置集成測(cè)量探頭，可無(wú)損、快速、精密地進(jìn)行磁性金屬表面非磁性涂鍍層厚度測(cè)量，易于操作，廣泛應(yīng)用于工業(yè)、電鍍業(yè)、船舶、橋梁、航空、工程、化工等領(lǐng)域。
ATX200漆膜測(cè)厚儀測(cè)量原理
ATX200涂層測(cè)厚儀/漆膜測(cè)厚儀的工作原理是基于以磁性法測(cè)量導(dǎo)磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金鋼、硬磁性鋼等，但不包括奧氏體鋼和軟磁性鋼等)上非磁性涂鍍層(如油漆、陶瓷、橡膠、鋁、鉻、銅、錫等)的厚度。當(dāng)測(cè)頭接觸鐵磁基體(或其他磁性金屬)時(shí)形成一閉合磁路，由于涂鍍層的存在，穿過(guò)線圈的磁通量與涂鍍層厚度的變化會(huì)導(dǎo)致磁路磁阻發(fā)生變化，通過(guò)測(cè)量其變化便可通過(guò)計(jì)算導(dǎo)出涂鍍層的厚度。
ATX200漆膜測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
- 測(cè)量方法:磁性法
- 測(cè)量范圍:0-1250um(0-50mil)
- 分辨率:0-999um;0.1um ≥1000um;1um
- 精度:≤100um;±2um 101-1250um;≤2.5%
- 數(shù)據(jù)存儲(chǔ):500 條
- 顯示:帶背光點(diǎn)陣液晶屏(128X64)
- 電源:1.5VX3(AAA 干電池)
- 使用溫度:0-50°C
- 規(guī)格:128X51X31 mm
- 重量:110g
ATX200漆膜測(cè)厚儀基本配置
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1臺(tái) |
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5片 |
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1個(gè) |
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3節(jié) |
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1套 |
ATX200漆膜測(cè)厚儀可選附件
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