涂層測厚儀探頭
涂層測厚儀探頭
涂層測厚儀F1探頭
2、兩點校準:±[(1~3)%H+1]um
2、基體最小面積的直徑:Ф7mm 3、最小臨界厚度:0.5mm
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F1探頭是磁性法測量的通用標準探頭,測量范圍0-1250um,基本覆蓋大部分涂層厚度范圍.
N1探頭是渦流法測量的通用標準探頭,測量范圍0-1250um,基本覆蓋大部分涂層厚度范圍.
涂層測厚儀F400探頭
2、兩點校準:±[(1~3)%H+0.7]um
2、基體最小面積的直徑:Ф3mm 3、最小臨界厚度:0.2mm
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F400為選配探頭,主要用于較薄厚度的涂層測量,可獲得更精準的測量結果和更高的重復性,另外在管材基體直徑較小或者被測區(qū)域接觸面積較小時,F(xiàn)400探頭也是較好的選擇。
F10為選配探頭,測量范圍由標配的0-1250um擴展至0-10000um,主要用于大厚度的涂層測量。選配F10探頭還應增配2000um、4000um、8000um的標準校準片,用于校準儀器。
涂層測厚儀F1|90探頭
2、兩點校準:±[(1~3)%H+1]um
2、基體最小面積的直徑:Ф7mm 3、最小臨界厚度:0.5mm
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F1/90為選配探頭,主要用于管材內(nèi)壁的涂層厚度測量。它細長的身形可以輕松的深入其它探頭無法到達的細管中;對于夾層和細縫中的涂層厚度也能很好的測量。
CN02為選配探頭,主要用于測量線路板上的銅箔厚度,檢測范圍在10-200um之間。