時(shí)代TIME1130數(shù)字超聲波探傷儀
時(shí)代TIME1130數(shù)字超聲波探傷儀
時(shí)代TIME1130數(shù)字超聲波探傷儀概述
時(shí)代TIME1130數(shù)字超聲波探傷儀匯集時(shí)代公司多年超聲儀器設(shè)計(jì)、制造經(jīng)驗(yàn)而研制的更新?lián)Q代產(chǎn)品,能夠快速、無(wú)損傷、精準(zhǔn)地進(jìn)行工件內(nèi)部多種缺陷如裂紋、焊縫、氣孔、砂眼、夾雜、折疊等的檢測(cè)、定位及對(duì)缺陷的定量和定性,廣泛應(yīng)用于電力、石化、鍋爐壓力容器、鋼結(jié)構(gòu)、軍工 、航空航天、鐵路交通、汽車、機(jī)械等領(lǐng)域。
時(shí)代TIME1130超聲波探傷儀的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 12604.1-2005 無(wú)損檢測(cè) 術(shù)語(yǔ) 超聲檢測(cè)
- JB/T 10061-1999 A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條件
- JJG 746-2004 超聲探傷儀檢定規(guī)程
- GB/T 11345-1989鋼焊縫手工超聲波探傷方法和探傷結(jié)果分級(jí)
- JB/T 4730.3-2005 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè) 第3部分:超聲檢測(cè)
- JG/T 203-2007鋼結(jié)構(gòu)超聲波探傷及質(zhì)量分級(jí)法
- SY/T 4109-2005 石油天然氣鋼制管道無(wú)損檢測(cè)
- TIME1130超聲波探傷儀嚴(yán)格符合歐標(biāo)En12668-1的標(biāo)準(zhǔn)要求
時(shí)代TIME1130數(shù)字超聲波探傷儀功能特點(diǎn)
- 新開(kāi)發(fā)的、采用國(guó)內(nèi)業(yè)界先進(jìn)的可調(diào)方波激勵(lì)技術(shù),內(nèi)置帶有可調(diào)節(jié)選項(xiàng)的高性能“方波/脈沖發(fā)生器”,實(shí)現(xiàn)與探頭的很好匹配,對(duì)檢測(cè)高衰減材料或厚工件具有膠佳的穿透力和信噪比;而對(duì)檢測(cè)薄工件和復(fù)合材料又有高的分辨率。
- 先進(jìn)的電路設(shè)計(jì),采用12bits 80MHz采樣片,配合5.7"TFT (640x480)高分辨率彩色液晶顯示屏,確保能快速、準(zhǔn)確地對(duì)缺陷的回波信號(hào)進(jìn)行顯示和分析,對(duì)各種弱小信號(hào)的變化和細(xì)節(jié)都能及時(shí)響應(yīng),回波信號(hào)的實(shí)時(shí)性和真實(shí)性得到有效的保證,對(duì)缺陷性質(zhì)的分析和判斷極為有利。
- 支持動(dòng)態(tài)錄像功能,可記錄4個(gè)動(dòng)態(tài)記錄文件,每個(gè)文件可以以16幀/秒的速度記錄2分鐘實(shí)時(shí)波形。(可外接U盤(pán)存貯到4個(gè)文件,每個(gè)文件半個(gè)小時(shí))通道保存、通道存儲(chǔ)菜單化操作,大大方便數(shù)據(jù)的分析存儲(chǔ)。
- 支持灰度B掃功能,可顯示截面灰度B掃描,一個(gè)屏幕顯示豐富信息量,可用于簡(jiǎn)單TOFD應(yīng)用。
- 豐富的波形凍結(jié)功能,波形凍結(jié)功能包括峰值顯示、波形比較、波形包絡(luò)等功能,還具有定時(shí)釋放能力,大大方便用戶操作。
- DAC、DGS曲線評(píng)定,取點(diǎn)不受限制,并內(nèi)置國(guó)內(nèi)主要4個(gè)探傷標(biāo)準(zhǔn),可直接通過(guò)選取標(biāo)準(zhǔn)、試塊、探傷等級(jí)自動(dòng)設(shè)置DAC曲線的三線偏移量,內(nèi)帶“美國(guó)鋼結(jié)構(gòu)焊接規(guī)范焊縫分級(jí)AWS D1.1”評(píng)定標(biāo)準(zhǔn),使檢測(cè)更加得心應(yīng)手。方便現(xiàn)場(chǎng)使用。
時(shí)代TIME1130數(shù)字超聲波探傷儀探傷功能
- 波峰記憶:實(shí)時(shí)檢索缺陷最高波,標(biāo)定缺陷最大值
- 實(shí)用AVG:實(shí)用AVG曲線、自動(dòng)換算缺陷φ值(X>3N,N為近場(chǎng)距離)
- 動(dòng)態(tài)記錄:檢測(cè)實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)記錄波形,存儲(chǔ)、回放
- 缺陷定位:實(shí)顯水平值P、深度值D、聲程值S
- 缺陷定量:實(shí)顯SL定量值(DAC曲線實(shí)時(shí)定量)
- 缺陷定性:通過(guò)包絡(luò)波形,人工經(jīng)驗(yàn)判斷
- 曲面修正:曲面工件探傷,修正曲率換算
- 灰度B掃描:實(shí)時(shí)掃查,描述缺陷橫切面
時(shí)代TIME1130數(shù)字超聲波探傷儀技術(shù)參數(shù)
- 基本參數(shù)
- 測(cè)量單位:mm、inch、ms
- 掃描范圍(mm):零界面入射~10000
- 聲速調(diào)節(jié)(m/s):600~16000
- 探頭延遲(us):-1.000~750.000
- 顯示延遲(us):-20~+3400
- 工作方式:?jiǎn)翁筋^、雙探頭、透射
- 波形顯示方式:A掃描顯示、灰度B掃描顯示、AB掃描同時(shí)顯示
- 脈沖發(fā)生器
- 脈沖形式:模擬方波
- 發(fā)射電源(V):100~400,10V步距可調(diào)
- 發(fā)射脈寬(ns):75、100~500,50ns步距可調(diào)
- 探頭阻尼(Ω):50、100、200、500
- 發(fā)射重復(fù)頻率(Hz):10~1000
- 接收器
- 增益(dB):0~110 分0.1、0.2、0.5、1.0、2.0、6.0、12.0可調(diào)
- 總帶寬(MHz):0.5~20
- 檢波方式:正半波、負(fù)半波、全波、射頻
- 垂直線性誤差:±2%
- 放大器精度(dB):±1
- 抑制(%):屏高的0~80
- 采樣速率(MHz):?jiǎn)纹?0 12bits
- 發(fā)射串?dāng)_抑制(dB):≥80
- 發(fā)射脈沖后盲區(qū)(μs):≤10(與發(fā)射有關(guān))
- 動(dòng)態(tài)范圍(dB):≥40
- 瞬時(shí)分辨力(dB):≥32
- 水平線性誤差:≤0.1%
- 靈敏度余量:≥62dB
- 測(cè)量參數(shù)
- 測(cè)量閘門(mén):2個(gè)獨(dú)立測(cè)量閘門(mén)
- 檢測(cè)方式:邊沿、峰值
- 閘門(mén)測(cè)量:回波的幅值、聲程、深度、投影等
- 凍結(jié):凍結(jié)方式有:全凍結(jié)、峰值、比較、包絡(luò)等方式
- AVG當(dāng)量計(jì)算:根據(jù)缺陷回波和AVG曲線自動(dòng)計(jì)算缺陷當(dāng)量評(píng)估
- DAC缺陷定量:根據(jù)缺陷回波和DAC 曲線對(duì)缺陷進(jìn)行評(píng)估
- 閘門(mén)邏輯:關(guān)、測(cè)量、進(jìn)波報(bào)警、失波報(bào)警
- 閘門(mén)報(bào)警:關(guān)、即時(shí)、保持.2s、保持.5s、保持1s、保持2s、鎖存
- 報(bào)警蜂鳴:關(guān)、開(kāi)
- 數(shù)據(jù)管理,通信及打印
- 數(shù)據(jù)存儲(chǔ):
- 50個(gè)探傷參數(shù)通道記錄
- 1000幅波形圖(包括980幅A掃描波形和20幅B掃描波形)
- 4x2000幀的動(dòng)態(tài)波形
- 數(shù)據(jù)管理:
- 實(shí)現(xiàn)對(duì)通道、波形、動(dòng)態(tài)記錄的存儲(chǔ)、查看、回放操作
- 上述均可存儲(chǔ)到本地或U盤(pán)
- 通信:通過(guò)USB接口與PC機(jī)通信
- 輸出接口
- USB OTG接口:
- USB2.0 Device 與PC機(jī)通訊接口
- USB2.0 Host 接U盤(pán)
- 其它
- 產(chǎn)品重量(kg):約1.6
- 產(chǎn)品外型尺寸(mm):300×180×58(不帶遮光罩)
- 工作溫度(℃):-10~+50
- 存儲(chǔ)溫度(℃):-20~+60
- 語(yǔ)言:英語(yǔ)、中文
- 探頭連接:LEMO 或BNC
- 電池容量(mAh):
- 聚合物電池:2×3.7V 5000mAh
- 電池工作時(shí)間(h):不低于8
- 充電時(shí)間(h):不超過(guò)8
- 電源適配器:輸出9V DC/3A~4A
時(shí)代TIME1130數(shù)字超聲波探傷儀基本配置
- TIME1130超聲波探傷儀主機(jī)
- 直探頭2.5MHz20
- 斜探頭5MHz8×9K2
- 探頭連接電纜
- 電源適配器
- 通訊線
- USB接口
- 軟件光盤(pán)
時(shí)代TIME1130數(shù)字超聲波探傷儀可選附件
- 時(shí)代超聲波探傷儀探頭
- 時(shí)代超聲波探傷儀試塊